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全譜譜線圖

CCD+CMOS全譜分析技術

 豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準確度；

 基于全譜測量的數據，能夠正確區分背景和譜線，有效提高測量精度；

 智能選擇合適的靈敏線，通過多譜線結合技術，實現低中高含量段的檢測需求；

 基于全譜測量數據的多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精確測量。

                 CMOS線陣傳感器        

獨創的實時智能漂移校正技術

 在分析過程中實時進行光譜漂移校正，增強儀器穩定性；

 減少標準化校正次數，延長校正周期；

 自動完成儀器校正，操作更加簡便。

                                                                          譜線漂移校正

獨特的CMOS檢測技術優于CCD

 CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應速度；